  | 
                デュアルタイプ膜厚計 LZ-200J                 ケット科学研究所 | 
            
            
              | 測定方式 | 
              電磁誘導式/渦電流式兼用 | 
            
            
              | 測定対象 | 
              磁性体上の非磁性皮膜および非磁性金属上の絶縁被膜 | 
            
            
              | 測定範囲 | 
              電磁式 : 0~1500μmまたは60.00mils 
              渦電流式: 0~800μmまたは32.00mils | 
            
            
              | 測定精度 | 
              電磁式 : 15μm未満: ±0.3μm 15μm以上: ±2% 
        過電流式: 50μm未満: ±1μm  50μm以上: ±2% | 
            
            
              | 分解能 | 
              100μm未満: 0.1μm、 100μm以上: 1μm  | 
            
            
              | 適合規格 | 
              電磁誘導式: JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、 
               ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5 
        渦電流式 :  JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、 
               ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5 | 
            
            
              | 電  源 | 
              AC100V・電池1.5Vx4 | 
            
            
                | 
                デュアルタイプ膜厚計 LZ-370                  ケット科学研究所 | 
            
            
              | 測定方式 | 
              電磁誘導式渦電流式兼用 | 
            
            
              | 測定対象 | 
              磁性体上の非磁性皮膜および非磁性金属上の絶縁被膜 | 
            
            
              | 測定範囲 | 
              電磁式 : 0~2500μmまたは99.00mils 
              渦電流式: 0~1200μmまたは47.00mils | 
            
            
              | 測定精度 | 
              電磁式 : 50μm未満: ±1μm 50μm以上1000μm未満: ±2% 
            : 1000μm以上: ±3% | 
            
            
              | 分解能 | 
              100μm未満: 0.1μm、 100μm以上: 1μm | 
            
            
              | 適合規格 | 
              電磁誘導式: JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、 
               ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5 
              渦電流式 :  JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、 
               ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5 | 
            
            
              | 電  源 | 
              AC100V・電池1.5Vx4 | 
            
            
                | 
                渦電流膜厚計 LH-200J                     ケット科学研究所 | 
            
            
              | 測定方式 | 
              渦電流式 | 
            
            
              | 測定対象 | 
              非磁性金属上の絶縁被膜 | 
            
            
              | 測定範囲 | 
              0~800μmまたは32.00mils | 
            
            
              | 測定精度 | 
              50μm未満: ±1μm 50μm以上1000μm未満: ±2% | 
            
            
              | 分解能 | 
              100μm未満: 0.1μm、 100μm以上: 1μm | 
            
            
              | 適合規格 | 
              JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、 
              ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5 | 
            
            
              | 電  源 | 
              AC100V・電池1.5Vx4 | 
            
            
                | 
                 電磁膜厚計 LE-370                     ケット科学研究所  | 
            
            
              | 測定方式 | 
              電磁誘導式 | 
            
            
              | 測定対象 | 
              磁性体上の非磁性被膜 | 
            
            
              | 測定範囲 | 
              0~2500μmまたは99.00mils | 
            
            
              | 測定精度 | 
              50μm未満: ±1μm 50μm以上1000μm未満: ±2%  1000μm以上: ±3%  | 
            
            
              | 分解能 | 
              100μm未満: 0.1μm、 100μm以上: 1μm | 
            
            
              | 適合規格 | 
              JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、 
              ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5 | 
            
            
              | 電  源 | 
              AC100V・電池1.5Vx4 | 
            
            
                | 
                 電磁膜厚計 L-2B                      ケット科学研究所  | 
            
            
              | 測定方式 | 
              電磁誘導式 | 
            
            
              | 測定対象 | 
              磁性金属上の非磁性被膜 | 
            
            
              | 測定範囲 | 
              Aレンジ:0~0.5mm, Bレンジ: 0.3~5mm | 
            
            
              | 測定精度 | 
              指示値に対して±5%  | 
            
            
              | プローブ | 
              二磁極式 | 
            
            
              | 電  源 | 
              電池1.5Vx4 | 
            
            
                | 
                デュアルタイプ膜厚計 LZ-990                ケット科学研究所 | 
            
            
              | 測定方式 | 
              電磁誘導式渦電流式兼用(自動判別機能付き) | 
            
            
              | 測定対象 | 
              磁性金属上の非磁性皮膜、および非磁性金属上の絶縁被膜 | 
            
            
              | 測定範囲 | 
              0~2000μm または0~80.0mils | 
            
            
              | 分解能 | 
              100μm未満: 0.1μm、 100μm以上: 1μm | 
            
            
              | 測定精度 | 
              50μm未満:±1μm, 50μm~1000μm: ±2% 
              1000μm~2000μm:±3% | 
            
            
              | 適合規格 | 
              電磁誘導式: JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、 
               ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5 
              渦電流式 :  JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、 
               ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5 | 
            
            
              | 電  源 | 
              電池1.5Vx4 |